部分放電測驗儀使用方法手冊說明書：

1、部分放電測驗儀開機預備

    將“時基頻率”挑選7置于“50（內(nèi)）”、“時基工作方式”5置于“橢圓”。對數(shù)線性挑選開關 2置于線性。電源插座33接上220V工頻電源，將電源開關12按到“ON”方位，開機預熱5分鐘。

2、儀器校準

參照圖4接好線后，在未加實驗電壓前用JZF型校對脈沖發(fā)生器予以校準。

    留意：校對脈沖發(fā)生器紅端子上的導線盡量短且接在試品的高壓端，黑端子導線接在試品的低壓端。

調(diào)理“放大器增益細調(diào)”13與“放大器增益粗調(diào)”15使注入脈沖高度恰當（示波屏上顯示高度2cm以下）；電壓、放電量數(shù)字表（3）的示數(shù)和線性、對數(shù)指針表（1）的示數(shù)與注入已知電量相符。

校準結束后，“放大器增益細調(diào)”（13）的旋鈕方位不能再改動，在以后測驗中放大器的頻帶也不能改動，必須堅持與校對時相同。

在校準結束后，加實驗電壓前，一定要斷開校對脈沖發(fā)生器與試品的連接線，以防高電壓打壞校對脈沖發(fā)生器。

    下面以圖4為例，介紹一種實驗方法：

    例：用JZF－9或JZF－10型校對脈沖發(fā)生器注入試品兩端的電量為50pC，調(diào)理GH-6209局放儀面板粗調(diào)旋鈕15，在第三檔調(diào)理放大器增益細調(diào)旋調(diào)13，使其表頭“1”指示為50pC。去掉校對脈沖發(fā)生器，參加實驗電壓，此刻表頭1所指示值即為放電量值的巨細，如大于50pC時應衰減“15”一檔（“15”為放大器增益粗調(diào)共分5檔，每檔20dB，10倍的聯(lián)系）。氧化鋅避雷器帶電測試儀

3、部分放電測驗儀測驗操作

    接通高壓實驗電路電源，將kV－pC挑選開關4置于“kV”,“零標挑選”開關25置于“R”方位，慢慢升高實驗電壓，橢圓上將呈現(xiàn)兩個零標脈沖，零標相位差180°，如實驗電壓超越高壓電阻R的額外電壓等級，則可在低電壓下將“零標挑選”開關25置于“內(nèi)”方位，呈現(xiàn)由儀器發(fā)生的輔助零標脈沖，這時能夠調(diào)理旋鈕23，使輔助零標相位與“R”檔時相符（極性也要共同），則在高壓下不必高壓電阻“R”也可獲得正確的零標方位。

    旋轉(zhuǎn)“橢圓旋轉(zhuǎn)”9使橢圓轉(zhuǎn)到預期的在放電時能利于調(diào)查之處，一般這個方位是零標脈沖別離處于橢園上部左側及下部右側之處。接連升高電壓，留意第一次呈現(xiàn)繼續(xù)放電，當放電量超越規(guī)定的最低值時的電壓即為部分放電開端電壓。

    測驗中常會發(fā)現(xiàn)有各種攪擾呈現(xiàn)，可籍“時刻窗”開關18、19、用一個或兩個并用電位器17與 20來改動橢圓上加亮區(qū)域的寬度與方位。使其避開攪擾脈沖。用時刻窗設備能夠別離測量發(fā)生于兩個半波內(nèi)的放電量。

4、頻率高于50Hz的部分放電實驗

    當須進行高于50Hz的部分放電實驗時，可將“時基頻率”挑選7按在相應頻率檔上，從高頻實驗電源中取10V－250V實驗電壓送入插座29上，（轉(zhuǎn)動“高頻電壓”挑選8，使橢圓巨細恰當即可，）

    當“高頻電壓”挑選8方位不當引起過載時，則電源會自動堵截，一起過載指示燈6亮，此刻應將“高頻電壓”挑選8順時針方向轉(zhuǎn)究竟，按一下“復位”按鈕11即可恢復發(fā)動（過載指示燈6滅）。示波屏上呈現(xiàn)橢圓顯示。

    留意：為保護示波管，實驗電壓輸入“高頻電壓”挑選8所示值之比大于15%時才有橢園顯示。   

（三）部分放電測驗儀附則

1、放電類型和放電源的辨認

    先介紹一下示波屏上的橢圓軌跡，它是順時針方向旋轉(zhuǎn)，正零標脈沖表明實驗電壓開端由負變向正極性；負零標脈沖則與之相反，兩零標間的中點為實驗電壓的正、負峰值部位。

    從橢圓上的放電圖形辯認放電類型以及辨認各種攪擾是一門技術性很強并需有豐厚實踐經(jīng)驗的學識（最好再結合其他方法予以承認）。CIGRE（世界大電網(wǎng)會議）也為須此專門編了放電圖形識譜的小冊子，它是依據(jù)放電圖形中放電方位、移動與否，正負半周的放電幅值共同程度以及放電幅值隨實驗電壓及加壓時刻的改變特征來判斷的，這兒只能粗略加以介紹。變壓器有載分接開關測試儀

    一般來說來，視為真正的內(nèi)部氣泡構成的部分放電，其首要特征是放電大多發(fā)生在接近實驗電壓峰值前上升部位的兩半周內(nèi)。

1）典型的內(nèi)部氣泡部分放電（見圖5），波形特征：a放電首要顯示在實驗電壓由零升到峰值的兩個橢圓相限內(nèi)。B在開端電壓 Ui時放電一般發(fā)生在峰值附近，實驗電壓超越 Ui時，放電向零位延伸。C兩個相反半周上放電次數(shù)和幅值大致相同（最大相差至3：1）。D放電波形可分辯。這兒又有幾種狀況：1）假如放電幅值隨實驗電壓上升而增大，并且放電波形變得含糊不行分辯，則往往是介質(zhì)內(nèi)含有多種巨細氣泡，或是介質(zhì)外表放電；2）假如除了上述狀況，而且放電幅值隨加壓時刻而迅速增長（可達100倍或更多），則往往是絕緣液體中的氣泡放電，典型比如是油浸紙電容器的放電。

2）部分放電測驗儀金屬與介質(zhì)間氣泡的放電（見圖6  a），波形特征：正半周有很多幅值小的放電，負半周有少量幅值大的放電，幅值相差可達10：1。其它同上，典型比如是絕緣與導體粘附不佳的聚乙烯電纜放電。假如隨實驗電壓升高，放電幅值也增大，而且放電波形變得含糊，則往往中含有不同巨細多個氣泡，或者是外露的金屬與介質(zhì)外表之間呈現(xiàn)的放電（見圖6  b）。

下面評論一些首要視之為攪擾或非正常放電的狀況。

3）部分放電測驗儀懸浮電位物體放電（見圖7  a），波形特征：在電壓峰值前的正負半周兩個象限里呈現(xiàn)，幅值、脈沖數(shù)和方位均相同，有時（如圖7  b所示）成對呈現(xiàn)，放電可移動，但它們間的彼此間隔不變，電壓升高時，根數(shù)添加，間隔縮小，但幅值不變，有時電壓升到一定值時會消失，但降至此值又重新呈現(xiàn)。原因：金屬間的空隙發(fā)生的放電，空隙可能是地面上兩個獨立的金屬體間也可能在樣品內(nèi)，例如屏蔽松散。

4）部分放電測驗儀外部頂級電暈（見圖8  a），波形特征：開端放電僅呈現(xiàn)在實驗電壓的一個半周上，并對稱地散布峰值兩邊。實驗電壓升高時，放電脈沖數(shù)急劇添加，但幅值不變，并向兩邊伸展（如圖8  b所示）。原因：空氣中高壓頂級或邊際放電。假如放電呈現(xiàn)在負半周，表明頂級處于高壓，如放電呈現(xiàn)在正半周則表明頂級處于地電位。

5）液體介質(zhì)中的頂級電暈（圖9  a），波形特征：放電呈現(xiàn)在兩個半周上，對稱地散布在電壓峰值兩則。每一組放電均為等間隔，但一組幅值較大的放電先呈現(xiàn)，隨實驗電壓升高而幅度增大，不一定等幅值：一組幅值小的放電幅值持平，并且不隨電壓改變（如圖9  b所示）。原因：絕緣液體中頂級或邊際放電，如一組大的放電呈現(xiàn)在正半周，則頂級處于高壓；如它呈現(xiàn)在負半周，則頂級處于地電位。

6）觸摸不良（圖10），波形特征：對稱散布在實驗電壓零點兩邊，幅值大致不變，但在實驗電壓峰值附近下降為零，波形粗糙不清晰。低電壓下即呈現(xiàn)，電壓增大時，幅值緩慢添加，有時在電壓達到一定值后完全消失。原因：實驗電路中金屬與金屬不良觸摸的連接點；塑料電纜屏蔽層半導體粒子的不良觸摸；電容器鋁箔的插接片等（可將電容器充電然后短路來消除）。

7）部分放電測驗儀可控硅元件（圖11  a），波形特征：方位固定，每只元件發(fā)生一個獨立信號。電路接通，電磁耦合效應增強時，信號幅值添加。實驗調(diào)壓時，該脈沖信號會發(fā)生高頻波形展寬，然后占位添加（圖11  b），原因：附近有可控硅元件在運轉(zhuǎn)。